caractérisation de semi-conducteurs III-V nanostructurés par microscopie à force atomique - Université de Rennes

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Communication Dans Un Congrès Année : 2010

caractérisation de semi-conducteurs III-V nanostructurés par microscopie à force atomique

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Charles Cornet

Fonction : Auteur
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Fonctions Optiques pour les Technologies de l'informatiON

Antoine Létoublon

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Fonctions Optiques pour les Technologies de l'informatiON

Julien Lapeyre

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Cyril Paranthoen

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Christophe Levallois

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Fonctions Optiques pour les Technologies de l'informatiON

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Optique / photonique

Soline Boyer : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00504500

Soumis le : mardi 20 juillet 2010-16:25:00

Dernière modification le : lundi 9 octobre 2023-11:49:00

Dates et versions

hal-00504500 , version 1 (20-07-2010)

Identifiants

HAL Id : hal-00504500 , version 1

Citer

Charles Cornet, Antoine Létoublon, Julien Lapeyre, Cyril Paranthoen, Christophe Levallois, et al.. caractérisation de semi-conducteurs III-V nanostructurés par microscopie à force atomique. Journées de la microscopie champ proche Bretagne, Jun 2010, Rennes, France. pp.1. ⟨hal-00504500⟩

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