Modélisation de l'immunité des circuits intégrés en contexte industriel - Université de Rennes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Modélisation de l'immunité des circuits intégrés en contexte industriel

Frédéric Lafon
  • Fonction : Auteur
Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique
Mohamed Ramdani
ESEO-EMC
Frédéric de Daran
  • Fonction : Auteur
Valeo
Richard Perdriau
ESEO-EMC
M'Hamed Drissi
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 839429
Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique

Domaines

Electromagnétisme

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https://hal.science/hal-00511449

Soumis le : mercredi 25 août 2010-10:24:08

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:53

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00511449 , version 1 (25-08-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00511449 , version 1

Citer

Frédéric Lafon, Mohamed Ramdani, Frédéric de Daran, Richard Perdriau, M'Hamed Drissi. Modélisation de l'immunité des circuits intégrés en contexte industriel. CEM 2010, Apr 2010, Limoges, France. ⟨hal-00511449⟩

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