Structural characterisation of GaP/Si nanolayers

Weiming Guo (1) , Thanh Tra Nguyen (1) , Antoine Létoublon (1) , Georges Elias (2) , Charles Cornet (1) , Anne Ponchet (2) , Alexandre Bondi (1) , Tony Rohel (1) , Nicolas Bertru (1) , Cédric Robert Robert (1) , Olivier Durand (1) , J.-S. Micha (3) , Mathieu Perrin (1) , Jacky Even (1) , Slimane Loualiche (1) , Alain Le Corre (1)

1 FOTON - Fonctions Optiques pour les Technologies de l'informatiON
2 CEMES - Centre d'élaboration de matériaux et d'études structurales
3 SPRAM - UMR 5819 - Structures et propriétés d'architectures moléculaire

Domaines: Optique / photonique

Weiming Guo, Thanh Tra Nguyen, Antoine Létoublon, Georges Elias, Charles Cornet, et al.. Structural characterisation of GaP/Si nanolayers. European Materials Research Society 2011, May 2011, Strasbourg, France. ⟨hal-00654330⟩