Détection de Défauts par Thermographie Infrarouge avec un Nouveau Système d’Excitation Micro-ondes - Université de Rennes Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Spectra Analyse Année : 2014

Détection de Défauts par Thermographie Infrarouge avec un Nouveau Système d’Excitation Micro-ondes

Sam Ang Keo
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de Génie Civil et Génie Mécanique
Franck Brachelet
Didier Defer
Florin Breaban
  • Fonction : Auteur

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Sam Ang KEO  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01074698

Soumis le : mercredi 15 octobre 2014-11:19:30

Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-14:18:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01074698 , version 1 (15-10-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01074698 , version 1

Citer

Sam Ang Keo, Franck Brachelet, Didier Defer, Florin Breaban. Détection de Défauts par Thermographie Infrarouge avec un Nouveau Système d’Excitation Micro-ondes. Spectra Analyse, 2014, 297, http://www.pcipresse.com/product.php?id_product=693. ⟨hal-01074698⟩

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