Growth and characterization of ferroelectric thin films for high frequency agile devices - Université de Rennes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Growth and characterization of ferroelectric thin films for high frequency agile devices

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01145795 , version 1 (26-04-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01145795 , version 1

Citer

Maryline Guilloux-Viry, Anne Waroquet, Fatou Cissé, Arnaud Le Febvrier, Valérie Demange, et al.. Growth and characterization of ferroelectric thin films for high frequency agile devices. E-MRS 2015 Spring Meeting ‘European Material Research Society’, May 2015, Lille, France. 1 page. ⟨hal-01145795⟩
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