Chapitre D'ouvrage
Année : 2015
Laurent Jonchère : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://univ-rennes.hal.science/hal-01319981
Soumis le : lundi 23 mai 2016-12:16:14
Dernière modification le : mercredi 10 mai 2023-08:39:33
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01319981 , version 1
Citer
Sofiane El Mossouess, E. Yee Kin Choi, N. Benjemaa, Rochdi El Abdi, L. Doublet, et al.. Statistical Analysis of Voltage from Constriction to Micro-arc Values during Aging by Fretting. Proceedings of the 2015 Sixty-First IEEE Holm Conference on Electrical Contacts (holm), San Diego, IEEE, pp.304--308, 2015, 978-1-4673-9341-6. ⟨hal-01319981⟩
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