Response to a localized stress perturbation during a biaxial test

Sean Mcnamara; Axelle Amon; Jérôme Crassous

doi:10.1051/epjconf/201714002013

Article Dans Une Revue EPJ Web of Conferences Année : 2017

Response to a localized stress perturbation during a biaxial test

(1) , (1) , (1)

Sean Mcnamara

Fonction : Auteur
PersonId : 518
IdHAL : sean-mc-namara
IdRef : 176657347

Institut de Physique de Rennes

Axelle Amon

Fonction : Auteur
PersonId : 923
IdHAL : axelle-amon
ORCID : 0000-0001-9475-4468
IdRef : 075962500

Institut de Physique de Rennes

Jérôme Crassous

Fonction : Auteur
PersonId : 2915
IdHAL : jerome-crassous
ORCID : 0000-0002-7434-9024
IdRef : 149683049

Institut de Physique de Rennes

Résumé

EPJ Web of Conferences, open-access proceedings in physics and astronomy

Domaines

Physique [physics]

Laurent Jonchère : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://univ-rennes.hal.science/hal-01580456

Soumis le : vendredi 1 septembre 2017-15:25:07

Dernière modification le : mercredi 10 mai 2023-08:39:33

Dates et versions

hal-01580456 , version 1 (01-09-2017)

Identifiants

HAL Id : hal-01580456 , version 1
DOI : 10.1051/epjconf/201714002013

Citer

Sean Mcnamara, Axelle Amon, Jérôme Crassous. Response to a localized stress perturbation during a biaxial test. EPJ Web of Conferences, 2017, 140, pp.02013. ⟨10.1051/epjconf/201714002013⟩. ⟨hal-01580456⟩

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