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Journal articles
Annealing effect on the electrical properties of IF (CN2)2-meta based OTFTs Thermal behavior and modeling of charge transport (vol 123, pg 286, 2018)
N. Arfaoui
1, *
M. Mandouani
1
I. Bouhadda
2
Cyril Poriel
3
R. Bourguiga
1
Emmanuel Jacques
4
M. Chevrier
3
S. Bebiche
4
N. Arfaoui 1
Correspondent author
M. Mandouani 1
Author
I. Bouhadda 2
Author
Cyril Poriel 3
Author IdHAL : cyril-poriel ORCID : https://orcid.org/0000-0002-6036-1778
R. Bourguiga 1
Author
Emmanuel Jacques 4
Author IdHAL : emmanuel-jacques ORCID : https://orcid.org/0000-0002-2807-6811
M. Chevrier 3
Author
S. Bebiche 4
Author
1
Université de Carthage - University of Carthage (Sidi Bou Said, Avenue de la République, Carthage 1054 - Tunisia)
2
FEMTO-ST - Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) (32 avenue de l'Observatoire 25044 BESANCON CEDEX - France)
- UTBM - Université de Technologie de Belfort-Montbeliard (France)
- ENSMM - Ecole Nationale Supérieure de Mécanique et des Microtechniques (École Nationale Supérieure de Mécanique et des Microtechniques 26, rue de l'épitaphe CS 51813 25030 BESANÇON CEDEX - FRANCE - France)
- UFC - Université de Franche-Comté (1 rue Goudimel 25030 Besançon cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6174 (France)
3
ISCR - Institut des Sciences Chimiques de Rennes (Campus de Beaulieu - Bât. 10 Avenue du Général Leclerc 35042 Rennes Cedex - France)
- ENSCR - Ecole Nationale Supérieure de Chimie de Rennes (France)
- UR1 - Université de Rennes 1 (2 rue du Thabor - CS 46510 - 35065 Rennes cedex - France)
- UNIV-RENNES - Université de Rennes (France)
- INSA Rennes - Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (20, avenue des Buttes de Coësmes - CS 70839 - 35708 Rennes cedex 7 - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6226 (France)
4
IETR - Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (Campus de Beaulieu Bâtiment 11D
263 Av.Général Leclerc-CS 74205
35042 Rennes Cedex - France)
- UN - Université de Nantes (1, quai de Tourville - BP 13522 - 44035 Nantes cedex 1 - France)
- UR1 - Université de Rennes 1 (2 rue du Thabor - CS 46510 - 35065 Rennes cedex - France)
- UNIV-RENNES - Université de Rennes (France)
- INSA Rennes - Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (20, avenue des Buttes de Coësmes - CS 70839 - 35708 Rennes cedex 7 - France)
- CentraleSupélec (3, rue Joliot Curie, Plateau de Moulon, 91192 GIF-SUR-YVETTE Cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6164 (France)
Document type :
Journal articles
Domain :
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https://hal-univ-rennes1.archives-ouvertes.fr/hal-02049418
Contributor : Laurent Jonchère <>
Submitted on : Tuesday, February 26, 2019 - 1:39:45 PM
Last modification on : Wednesday, April 7, 2021 - 3:18:12 PM
Contributor : Laurent Jonchère <>
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Last modification on : Wednesday, April 7, 2021 - 3:18:12 PM
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Identifiers
- HAL Id : hal-02049418, version 1
- DOI : 10.1016/j.spmi.2018.10.021
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UNIV-RENNES1 | IETR | ISCR | CNRS | UNIV-BM | UNIV-FCOMTE | UNIV-BM-THESE | UR1-UFR-SPM | UR1-UFR-ISTIC | SCR_MACSE | IETR-MM | INC-CNRS | FEMTO-ST | UNIV-NANTES | UNIV-RENNES | INSA-GROUPE | CENTRALESUPELEC | INSA-RENNES
Citation
N. Arfaoui, M. Mandouani, I. Bouhadda, Cyril Poriel, R. Bourguiga, et al.. Annealing effect on the electrical properties of IF (CN2)2-meta based OTFTs Thermal behavior and modeling of charge transport (vol 123, pg 286, 2018). Superlattices and Microstructures, Elsevier, 2019, 125, pp.80-80. ⟨10.1016/j.spmi.2018.10.021⟩. ⟨hal-02049418⟩
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