Statistical Analysis of Voltage from Constriction to Micro-Arc Values During Aging by Fretting - Université de Rennes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Statistical Analysis of Voltage from Constriction to Micro-Arc Values During Aging by Fretting

Sofiane El Mossouess
Institut de Physique de Rennes
Elsa Yee Kin Choi
Institut de Physique de Rennes
Noureddine Benjemaa
  • Fonction : Auteur
Institut de Physique de Rennes
Rochdi El Abdi
Institut de Physique de Rennes
Laurent Doublet
  • Fonction : Auteur
Metalor Technologies (France) SA
Thierry Rodari
  • Fonction : Auteur
Erwann Carvou
Institut de Physique de Rennes
CV

Domaines

Physique [physics] Mécanique [physics] Sciences de l'ingénieur [physics] Energie électrique

ROCHDI EL ABDI  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://univ-rennes.hal.science/hal-02385209

Soumis le : jeudi 28 novembre 2019-16:43:13

Dernière modification le : mercredi 10 mai 2023-08:39:33

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02385209 , version 1 (28-11-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02385209 , version 1

Citer

Sofiane El Mossouess, Elsa Yee Kin Choi, Noureddine Benjemaa, Rochdi El Abdi, Laurent Doublet, et al.. Statistical Analysis of Voltage from Constriction to Micro-Arc Values During Aging by Fretting. 61th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2015, San-Diego, United States. pp.304-308. ⟨hal-02385209⟩

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