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L’équipe SMARTIES est une équipe d’une trentaine de chercheurs dont les activités sont centrées sur les méthodes de conception et la modélisation de dispositifs, systèmes et circuits intégrés conçus en technologie CMOS, à l’aide de technologies émergentes (CNT, CNTFET, MRAM, …), selon des approches de conception alternatives (3D, adiabatique, etc.).

L’ensemble de ces travaux visent à développer des systèmes et circuits intégrés offrant de hautes performances et une consommation d’énergie réduite, mais également des circuits adaptatifs à leur état de fonctionnement et à l’environnement de sorte à garantir la fonctionnalité, la sureté et la sécurité des informations traitées ou bien satisfaire des contraintes applicatives spécifiques.

Dans cette démarche SmartIES se caractérise par sa volonté de conduire les approches théoriques jusqu’à des démonstrateurs expérimentaux ou des bancs de mesure. Au cours des cinq dernières années, on peut noter de nombreux travaux ayant contribué à des réalisations matérielles (ASIC, plateformes expérimentales dédiées, prototypes matériels et/ou logiciels) et conduit à des transferts technologiques.

Open Access Files

64 %

Nombre de Fichiers déposés

242

Nombre de Notices déposées

144

Politique des éditeurs en matière de dépôt dans une archive ouverte

Cartographie des collaborations

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FDSOI technology Vanadium dioxide Microprocessors Machine-learning algorithms Transistors Through-silicon vias Noise Ensemble methods Digital signal processing Pattern recognition Indirect test Oscillatory neural network Error mitigation Noise measurement Insulator-Metal-Transition IMT Process variability Circuit faults Mutual information Neuromorphic computing Fault tolerance Indirect testing Phase noise RF integrated circuits Test efficiency Oscillatory neural networks ONN Circuit simulation Switches Interconnects SRAM Convective accelerometer Low-power Side-channel analysis Bio-logging 1-bit acquisition ADC Electronic tagging Self-oscillations Low-cost measurements Self-heating Test cost reduction RF test Magnetic tunneling Alternate testing Computer architecture One bit acquisition Time-domain analysis 3D integration Analog signals Reliability Integrated circuit noise ZigBee Current mirror Carbon nanotubes Oscillatory Neural Networks Bioimpedance spectroscopy RSA Hardware security Sensors Technology computer-aided design TCAD Analog/RF integrated circuits Specifications SEU Edge artificial intelligence edge AI Integrated circuits MEMS Quantum computing Test confidence Quantum Digital ATE EM fault injection Qubit Beyond-CMOS devices OQPSK Education NP-hard problems Energy Integrated circuit testing Carbon nanotube Evaluation Logic gates Delays Bioimpedance Test Deep learning Three-dimensional displays Side-channel attacks Power demand Performance Image Edge Detection Hardware Three-dimensional integrated circuits Oscillatory Neural Network Integrated circuit modeling Phase shifter Calibration Countermeasures Electrothermal simulation Edge AI Fault attacks Automatic test pattern generation