Article Dans Une Revue
physica status solidi (c)
Année : 2010
Yolande Sambin : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00506587
Soumis le : mercredi 28 juillet 2010-12:29:51
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:53
Citer
Khaled Belarbi, Khalid Kandoussi, Ismaïl Souleiman, Claude Simon, Nathalie . Coulon, et al.. Decreasing the thickness of active layer of microcrystalline silicon TFTs. physica status solidi (c), 2010, 7 (3-4), pp.1152-1155. ⟨10.1002/pssc.200982665⟩. ⟨hal-00506587⟩
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